VT-S1040
Optisches 3D-Leiterplatten-Kontrollsystem
Das VT-S1040 ist das weltweit fortschrittlichste 3D-AOI-System und wurde für Anwendungen mit hoher Fertigungsqualität entwickelt. Neue Technologien kompensieren den Mangel an Produktionsausbeute, der traditionell durch Schatten, Reflexionen und Zykluszeiten verursacht wird, um unbemannte Inspektionsprozesse in Kombination mit arbeitssparender Maschinenpflege durch vorausschauende Wartung durchführen zu können.
- Kürzere Zykluszeiten dank leistungsstarker Kamera mit einer Auflösung von 25 MP.
- Branchenweit erste MDMC-Beleuchtung: 3D-Bildgebung aus allen Winkeln ermöglicht die genaue Inspektion komplizierter Lötformen.
- Eliminierung von Schatten und Sekundärreflexion mit 4-Richtungs-MPS-Projektoren
- Hohe Erstausbeute von bis zu 99 %.
- Komplette Offline-Programmgenerierung ohne Produktionsunterbrechung.
- Einzigartige KI für die arbeitssparende Programmoptimierung durch ungeschultes Personal.
- Einzigartige globale Bibliothek für identische Qualitätsstandards an allen Produktionslinien.
- Einzigartige Verbindung mit: OMRON Q-upNavi: eine Kombination aus SPI-, AOI- und AXI-Ergebnisdaten für eine echte Ursachenanalyse.
- Einzigartige Verbindung mit: OMRON Q-upOpti: SPI-Einstellung und -Optimierung berechnet aus AOI-Lötwerten für die ungeschulte Bedienung.
- Einzigartige Verbindung mit: OMRON Qup Auto-I: Analyse der Produktionsqualität an der gesamten Produktionslinie.
- Einzigartige Verbindung mit OMRON Qup Auto-C: sorgt autonom für durchgehend hohe Qualität und Produktivität an Ihrer Produktionslinie.
Wie können wir Ihnen helfen?
Wenn Sie eine Frage haben, kontaktieren Sie uns oder senden Sie eine Anfrage.
Ihr Kontakt VT-S1040
Vielen Dank für Ihre Anfrage. Wir setzen uns umgehend mit Ihnen in Verbindung.
Es liegen zur Zeit technische Probleme vor. Ihre Übertragung war nicht erfolgreich. Entschuldigen Sie dies bitte und versuchen es später noch einmal. Details
DownloadFeatures
KI-gestützte Qualitätsinspektion nach internationalen Standards
Da standardkonforme Kennwerte direkt als Inspektionskriterien angewendet werden, ist die Genauigkeit nicht von Kompetenz und Fachwissen des Programmierers abhängig.
KI-Technologie zur Minimierung von Programmieraufwand und Sichtprüfungen
1. KI-Selbstoptimierung
2. Automatische Erfassung von Defektbildern zur Analyse und Visualisierung der Ergebnisdatentrennung für die KI-gestützte Defektbestimmung
3. Visualisierung der KI-basierten Einstellungen
Hochpräzise Rekonstruktion der Lötform
Dank Ausstattung mit unserer einzigartigen MDMC-Beleuchtung (Multi Direction/Multi Color) und der neuen patentierten MPS-Moiré-Technik (Micro Phase Shift) sind äußerst robuste und zuverlässige Inspektionen möglich.
M2M*1-System mit Fokus auf Qualität
1. Vermeiden von Defekten durch:
- Überwachung und Meldung von Messwertschwankungen während der Produktion
- Visualisierung von Defekttrends im Zusammenhang mit Chipmontage-Hardware wie Köpfen und Düsen
2. Visualisierung der Qualität durch:
- Prozessvergleich
- Anzeigen des Produktionsstatus
- Verknüpfen von SPI-/AOI-/AXI-Systemen
3. Verbesserung der Erstausbeute in der Produktion durch automatische Berechnung der Inspektionskriterien nach dem Aufdrucken/Bestücken auf Basis der Inspektionsergebnisse nach dem Lotrückfluss
*1. Abkürzung für Machine-to-Machine. Hierbei handelt sich um einen Mechanismus zur Optimierung der Qualität und des Anlagenbetriebszustands ohne Eingriff des Menschen. Dieser wird durch die selbständige Kommunikation und den Informationsaustausch zwischen verschiedenen, miteinander verknüpften Produktionsanlagen ermöglicht.
Downloads
